态锐仪器ALD薄膜封装设备在Micro-LED显示中的应用案例

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态锐仪器ALD薄膜封装设备在Micro-LED显示中的应用案例

📅 2026-06-28 🔖 态锐仪器,CVD,ALD,薄膜沉积

Micro-LED被视为下一代显示技术的核心,但其对水氧阻隔层的严苛要求,让传统封装方案频频碰壁。态锐仪器依托自研的**ALD薄膜沉积**技术,已为多家头部面板厂商提供了高可靠的封装解决方案。我们直接切入痛点:如何用原子层级的薄膜,锁住Micro-LED的发光效率与寿命。

Micro-LED封装的核心挑战与ALD对策

Micro-LED的尺寸微缩至数十微米后,电极侧壁与发光层对水氧极度敏感。常规PECVD或蒸镀法因薄膜致密度不足,难以满足WVTR(水蒸气透过率)低于10⁻⁶ g/m²/day的要求。态锐仪器采用等离子体增强原子层沉积(PE-ALD)工艺,通过交替注入前驱体,在低温(<80℃)下形成Al₂O₃/TiO₂叠层结构,薄膜应力可控且无针孔缺陷。

案例关键数据与工艺要点

  1. 阻隔性能:在85℃/85%RH老化测试中,ALD封装层使Micro-LED亮度衰减<5%(1000小时),而传统方案衰减超30%。
  2. 保形覆盖:针对深宽比>10:1的像素隔离槽,态锐仪器的ALD设备实现了台阶覆盖率达98%,无死角沉积。
  3. 量产兼容性:设备支持6/8英寸晶圆批量处理,单循环沉积速率优化至1.2Å/cycle,兼顾效率与膜质。

从实验室到产线:真实案例复盘

某Micro-LED初创公司需要将蓝色芯片的封装厚度压缩至30nm以下,同时保持高阻隔性。我们调用了态锐仪器CVD与ALD混合工艺:先用CVD快速沉积SiNx缓冲层,再通过ALD沉积5nm Al₂O₃作为主阻隔层。最终产品通过双85测试,且良率从试产初期的72%提升至94%。

为什么选择态锐仪器?

  • 低温工艺:避免高温对Micro-LED量子阱结构的损伤。
  • 原位监控:集成椭圆偏振光谱仪,实时反馈薄膜厚度与光学常数。
  • 定制化服务:针对柔性Micro-LED基板,提供卷对卷ALD模块扩展方案。

Micro-LED的产业化进程中,封装环节的瓶颈正在被逐步攻克。态锐仪器持续深耕薄膜沉积技术,从ALD前驱体选型到工艺窗口优化,为客户提供从研发到量产的完整链路支持。我们相信,原子尺度的精密控制,是解锁下一代显示性能的关键钥匙。

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